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測試系統綜述

一個完整的CCD、紅外焦平面陣列測試系統主要包括:光源(黑體或可見光源)、脈沖信號(時鍾驅動)、偏置電平(直流偏壓)、模數轉換模塊、數據采集系統和數據分析軟件。大致系統結構框圖如下所示

要全面、准確評估一個陣列探測器,可以從下面四個方面進行:

1.陣列探測器直流信號特性,包括陣列工作要求的直流偏置、背景電平、直流信號電平、直流信號電平輸出的有效範圍等特性的評價。

2.陣列探測器芯片級/組件及光電特性,包括Crosstalk、Spot Scan、MTF、Responsivity、D*、Uniformity、Linearity、Noise、NETD、NEI等。

3.陣列探測器成像特性,通過對紅外焦平面陣列探測器提供合適的脈沖信號及偏置電平,使探測器正常工作,利用數據采集和紅外信號處理硬件平台完成陣列探測器輸出的模擬信號采集、非均勻性修正、視頻格式轉換等處理,並輸出標准顯示格式的模擬視頻信號送圖象監視器顯示。通過上述可視成像處理,可對紅外焦平面陣列探測器的成像特性評價進行直觀地評價。

4.陣列探測器成像方式時的光電性能,對紅外焦平面陣列探測器,進行系統級特性( MTF, SiTF, NETD, and MRTD)的測量。


進行上述四個方面的測試評價所涵蓋的被測參數、所要求工作方式、測試環境各不相同。